Uniwel Circuits Płytka testowa półprzewodników

Uniwel Circuits Płytka testowa półprzewodników

Warstwy 18L Grubość 3,0 mm Min. rozmiar otworu 0,5 mm Min. szerokość linii 5 mil Grubość miedzi w warstwie zewnętrznej 1 uncja Grubość miedzi w warstwie zewnętrznej 1 uncja Wykończenie powierzchni złoto zanurzeniowe Min. odległość od otworu do linii 0,225 mm
Wyślij zapytanie

Shenzhen Uniwell Circuits Co., Ltd. jest jednym z wiodących producentów i dostawców płytek testowych Uniwel Circuits Semiconductor w Chinach, obsługuje również niestandardowe usługi za niską cenę. Jeśli zamierzasz kupić wysokiej jakości płytkę testową Uniwel Circuits Semiconductor, zapraszamy do otrzymania wyceny z naszej fabryki.

 

Wysoce precyzyjne płytki testowe do półprzewodników są głównymi nośnikami weryfikacji wydajności chipów w łańcuchu przemysłu półprzewodników, z następującymi cechami i obszarami zastosowań:

 

Wprowadzenie produktu

Warstwy

18L

Grubość

3,0 mm

Minimalny rozmiar otworu

0,5 mm

Minimalna szerokość linii

5 milionów

Grubość miedzi w warstwie wewnętrznej

1 uncja

Grubość warstwy zewnętrznej miedzi

1 uncja

Wykończenie powierzchni

zanurzenie złota

Minimalna odległość od otworu do linii

0,225 mm

Podstawowe cechy produktu

 

Płytka testowa półprzewodników Uniwell Circuits obejmuje pełny zakres wysokich specyfikacji wielowarstwowych z 10–32 warstwami, a typowe produkty mają następujące podstawowe możliwości procesowe:

Struktura-o bardzo wysokim wzroście: umożliwia osiągnięcie projektów układania stosów o wysokim stopniu trudności, takich jak 26 warstw (2+22+2), 30 warstw i 32 warstwy, dostosowując się do wymagań-wysokiej gęstości połączeń pinów w-high-endowych chipach.
Najwyższa dokładność procesu: stosunek grubości do średnicy może sięgać nawet 25:1, obsługując technologię połączeń HDI dla dowolnej warstwy, z szerokością/odstępem linii wynoszącym zaledwie 2,5/2,5 mil, zapewniając integralność-szybkiej transmisji sygnału.
Wysoka niezawodność: Stosując specjalne podłoża o wysokiej zawartości TG, wypaczenie płyty można kontrolować na najwyższym w branży poziomie mniejszym lub równym 0,15%. W obróbce powierzchni zastosowano technologię grubego złota o grubości 50 μ, aby zapewnić stabilność sondy testowej po milionach wkładań i wyjmowań.

Podstawowe obszary zastosowań

 

Ten typ płytki testowej głęboko służy podstawowemu ogniwu weryfikacyjnemu w łańcuchu przemysłu półprzewodników:

Testowanie funkcjonalne po zapakowaniu chipów: jako płyta obciążeniowa do testowania chipów, wykonuje włączanie i wyłączanie wydajności elektrycznej oraz weryfikację logiki funkcjonalnej-najwyższej klasy procesorów i chipów obliczeniowych AI, a także jest głównym nośnikiem kontroli wydajności przed dostawą chipów.

 

product-326-296


Testowanie niezawodności starzenia się chipa: załaduj chip na etapie-testowania starzenia w wysokiej temperaturze, symuluj-długoterminową pracę w ekstremalnych warunkach pracy i sprawdzaj długoterminową-stabilność chipa w scenariuszach takich jak centra danych i serwery AI.


Obsługa scenariuszy obliczeń najwyższej klasy: zapewnianie dostosowanych rozwiązań testowych dla chipów komunikacyjnych 5G, chipów sterujących pojazdami i specjalistycznych chipów klasy lotniczej, obejmujących potrzeby weryfikacji chipów w kluczowych branżach niższego szczebla, takich jak inteligentne pojazdy połączone z siecią, sterowanie przemysłowe i elektronika medyczna.

Popularne Tagi: Płytka testowa Uniwel Circuits Semiconductor, Chiny, dostawcy, producenci, fabryki, tanie, dostosowane, niska cena, wysoka jakość, oferta cenowa